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2024

對于半導體前工序的多種需求大塚膜厚儀的特點和作用

● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數k、絕對反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。

展會名稱	對于半導體前工序的多種需求大塚膜厚儀的特點和作用
展會時間	2025/4/24 15:00~16:00
舉辦展館	蘇州線上講習會

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